安宇對于目前基于按很小的條件原則測量刮研平板平面度誤差的儀器尚未達到可以供使用的程度,因此評定很小的條件刮研平面度誤差數據主要來自對角線法或環線法的測量值,這些測量值都應該使用很小的條件原則的判別準則予以鑒別。如果與判別標準不符要進行數據處理,經過處理得出的數據,也要用判別準則進行鑒別,直至符合準則時為止。因為符合很小的條件原則的評定基面具體方位,不能在測量之前或測量當中預先得知,只能在取得數據之后進行評定,所以符合很小的條件原則的刮研平板的平面度誤差值得評定過程包括鑒別和處理兩個步驟。
數據處理的實質是評定基面的變換,通過基面的變換可以將已有測量值轉換為符合很小的條件的
刮研平板平面度誤差值。
被測刮研平板平面的平面度誤差是相對理想平面確定的,測量時所依據的理想平面稱為測量基準,而據以評定刮研平板平面度誤差的理想平面稱為評定基準,兩者一般不重合,而符合很小的條件的評定基準只能在測量后方可確定其方位,只有找到這個方位才可以求得刮研平板平面度誤差值。
基面變換是當使用判別準則判別已有數值的評定面不符合很小的條件原則的要求時,需要變換已有的評定基面,使各測點相對于變換后的評定基面的數值符合判別準則的要求,獲得符合很小的條件要求的平面度誤差值。
因此,基面變換的功用是改變基準平面相對于被測平面的位置,找到符合很小的條件的評定基面、確定平面度誤差值。
綜上是安宇對于
刮研平板的基面變換的簡單介紹,我公司生產的產品都是有很好的售后服務,有什么問題可以找我公司技術人員為您解答。